DataRay 狭缝扫描式光束质量分析仪所使用的硅基探测器使得它完美适用于 190nm 至 1150nm 范围内的检测。 Beam'R2 配备 2.5 微米狭缝和更大的刀刃狭缝,能够测量直径小至 2µm 的光束。狭缝扫描式光束质量分析仪的分辨率比相机式系统高得多,而且兼容连续激光和脉冲激光。 DataRay 狭缝扫描式光束质量分析仪是光学组装和仪器对准、对焦和对准误差的实时诊断、实现多个组件实时共聚焦控制的理想选择。这些分析仪由 USB 2.0 供电,包括一条 3 米长的 USB 2.0 电缆。
设计工作波长190至 1150nm
可测量光束直径为 2µm 至 4mm
提供功能强大且易于使用的控制软件
标题 | 产品编码 | 支架 | 尺寸 (mm) | 信噪比 (dB) | 光谱范围 | 尺寸精度 | Maximum Power (W) | Frame Rate | Beam Diameter (μm) |
BeamR2-Si Scanning Slit Beam Profiler | 24-215 | 1/4-20 thread | 60.96 x 67.31 x 66.17 | 1‚000:1 | 190 - 1150 | ±1µm | 1 W Total & 0.5 mW/µm² | 5Hz | 2µm to 4mm |