日本清和光学Seiwa管镜-33mm大靶面相机，MS-200-TCD33系列，最大匹配33mm对角线大靶面相机，配合Seiwa特别设计优化物镜，实现超大视场，超长工作距离，超清晰检测，适用于半导体晶圆缺陷瑕疵检测，平面显示器用（触摸屏、OLED、LCD）的曝光设备、检测设备、激光修复机等设备。同时，也适用半导体、MEMS相关的曝光设备、检测设备等。

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